名称：LH-XRFⅡ岩石元素分析仪

产品描述

产品原理

　　LH-XRFⅡ岩石元素分析仪是对录井现场岩心、岩屑、井壁取心、野外露头等样品的元素含量进行分析的光学仪器，通过岩石中各元素含量及其衍生参数进行岩性及脆性分析等，形成曲线报告。

　　仪器分析速度快、测试精度高、重复性好、稳定性强、体积小、重量轻、操作灵活、适用于现场录井条件。

产品参数

• 元素分析范围：钠(Na)到铀(U)

• 一次可同时分析35个元素

• 元素含量分析范围：1ppm-99.99%

• 管压：0-50KV

• 管流：1-500uA

• 能量分辨率：优于122eV

• 能量测量范围：1-40KeV

• 测量时间：3分钟

• 分析精度(RSD)：＜0.05%

• 真空度：10秒可达10-2Pa，高真空区域10-1 – 10-5Pa

• 仪器尺寸：480x430x580mm

• 重量：65kg

优势特色

1、采用进口电致冷半导体探测器，仪器自动校准，确保仪器长期稳定可靠运行

2、采用真空测量系统，保证仪器真空度稳定，提高了轻元素测量的准确性，并可防止真空腔返油

3、可进行火山岩、沉积岩岩性分析，岩石脆性分析等

4、具有图版分析、曲线分析、趋近分析等岩性识别功能

5、提供元素数据统计参数，支持分析图版自定义设计

6、可灵活控制数据导入/导出

7、可进行自定义参数设计

8、报告形式多样，可自定义设计